OSense O-Sense
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专利声明

非损伤微测技术专利

经过10年的艰苦努力,旭月公司与美国扬格公司一起将“非损伤微测技术”在MBL-Jaffe教授的原始思想基础上,已发展成进一步成熟的真正实验室设备 (已进入第五代),欢迎广大科研工作者像王立伟、陈少良等老师一样,利用NMT实现跨越式发展,将自身科研快速赶超世界先进水平!

 
专利证书号 专利名称
ZL200810115290.9 一种自动化扫描微测离子/分子活性的技术
ZL200920106770.9 一种带有光学分离子检测装置的非损伤微测系统
ZL200610103607.8 选择性离子电极制备装置
ZL200620132388.1 采用多电极测量的非损伤微测系统
ZL200620132389.6 一种带有可移动装置和无线传输装置的非损伤微测系统
ZL2009100900856 一种全自动非损伤微测装置
ZL201010512924.1 用于自动化扫描振荡电极技术的装置

  

客户评价

“谢谢你们给我们提供的测试服务,我们非常满意。”

湖南大学测试客户